Prohledat tento web
Události‎ > ‎

Metody analýzy povrchů - XPS, UPS, SIMS/SNMS a další

Firma Measurement Technic Moravia Ltd. spolu s firmou SPECS si Vás dovoluje pozvat na seminář o metodách analýzy povrchů

Datum a místo konání:

pondělí 21. března 2011 od 10:00 do 14:00 hodin v prostorách Hotelu Hubertus, na zámku ve Valticích (www.hubertus.cz)

  • Představení firmy Specs

  • Přednášky účastníků o jejich zkušenostech s XPS etc.

  • Nové metody ve foton-elektornové spektroskopii,
    XPS za vyšších tlaků, Secondary Ion/Neutral Mass Spectroscopy

Přednášející:

Dr. Margarethe Kampling, SPECS
Dr. Dušan Novotný, MtM

Seminář navazuje na akci pořádanou Českým metrologickým institutem - „Seminář o metodách v blízkých polích“, tedy o AFM apod. Tento seminář se usketeční na témže místě o den později, tedy 22.-23.3.2011. účastníci nás tedy mohou požádat o zajištění ubytování. To bude možné v Hotelu Hubertus. Blíže o semináři ČMI: http://gwyddion.net/workshop_cz.php

Ty, co zůstávají na seminář ČMI zveme na ochutnávku vín do místní Galerie vín či do Salonu vín.

Felix Holáň
Dušan Novotný

V případě Vašeho zájmu prosíme o potvrzení účasti
telefonicky či e-mailem .

Budeme potěšeni pokud budete informovat
o naší prezentaci i další Vaše kolegy.

Kontakt: info@mt-m.eu
Telefon: +420 513 034 408