Analýza a zobrazování povrchů

Příprava a charakterizace tenkých vrstev

Magnetická rezonance


Rentgenová difrakce, elementární analýza

Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy

Měření záření a světla


MĚŘICÍ TECHNIKY:

Elipsometry a reflektometry


Elipsometrie a reflektometrie představují rychlé a snadné metody pro vyhodnocení tloušťky a indexu lomu jednoduchých vrstev, multivrstev nebo i objemových materiálů. V kombinací s pokročilými optickými modely lze z precizních měření určit i další, obecně anizotropní, vlastnosti materiálů, drsnosti povrchu a jednotlivých rozhraní a gradienty optických konstant.

Ve spolupráci se firmou SENTECH Vám nabízíme spektroskopické a laserové elipsometry, reflektometry a kombinace těchto přístrojů. Spektroskopické elipsometry jsou zastoupeny nejvyšší řadou výzkumných elipsometrů SENresearch 4.0, cenově efektivními elipsometry SENpro, infračerveným elipsometrem SENDIRA a automatizovanou elipsometrickou stanicí SENDURO.

Kombinovaný elipsometr-reflektometr CER SE 500adv využívá výhod obou technik pro jednoznačné určení tloušťky periodických systémů vrstev.

Pro rychlou analýzu tloušťky tenkých vrstev je vhodný laserový víceúhlový elipsometr SE 400adv, nebo reflektometry řady RM a TFPadv.

Elipsometry a reflektometry SENTECH


      • Spektroskopický elipsometr SENresearch 4.0
      • Spektroskopický elipsometr SENpro
      • Infračervený elipsometr SENDIRA
      • Automatizovaný spektroskopický elipsometr SENDURO
      • Laserový elipsometr SE 400adv
      • Kombinovaný elipsometr-reflektometr CER SE 500adv
      • Spektroskopické reflektometry RM
      • Stolní reflektometr FTPadv

Kontakty

Měřicí technika Morava s.r.o, Babická 619, 664 84 Zastávka u Brna, Česká republika

e-mail: info@mt-m.eu         tel: + 420 513 034 408               podrobné kontakty:         on line schůzka:

Napište nám: