Analýza a zobrazování povrchů

Ve spolupráci s našimi partnery, jako jsou firmy Bruker, SEC, Kore, Createc a dalšími Vám nabízíme nejrůznější techniky pro moderní povrchovou analýzu. Ty zahrnují AFM a SPM metody, 3D optické mikroskopy a mechanické profilometrystolní elektronové mikroskopy, tribometrické metody a zejména povrchové metody jako jsou SIMS, XPS, LEEM, PEEM apod. Uvedené techniky a konkrétní přístroje zdaleka nejsou kompletním výčtem měřících přístrojů, které vám můžeme nabídnout. Neváhejte se proto na nás obrátit s Vaším konkrétním dotazem.

Contour GT

3D optické a mechanické profilometry

3D optické a mechanické profilometry

Hysitron ti 980 nanoindenter

Indentory a tribometry

Indentory a tribometry

Mikroskopie skenující sondou - AFM, bioAFM, UHV AFM

Mikroskopie skenující sondou - AFM, bioAFM, UHV AFM

Moke system Prevac

Povrchová analýza - XPS, SIMS, etc.

Povrchová analýza - XPS, SIMS, etc.

SNE-4500M plus B

Stolní elektronové mikroskopy - SEM

Stolní elektronové mikroskopy - SEM