Analýza a zobrazování povrchů

Ve spolupráci s našimi partnery, jako jsou firmy Bruker, SEC, Kore, Createc a dalšími Vám nabízíme nejrůznější techniky pro moderní povrchovou analýzu. Ty zahrnují AFM a SPM metody, 3D optické mikroskopy a mechanické profilometrystolní elektronové mikroskopy, tribometrické metody a zejména povrchové metody jako jsou SIMS, XPS, LEEM, PEEM apod. Uvedené techniky a konkrétní přístroje zdaleka nejsou kompletním výčtem měřících přístrojů, které vám můžeme nabídnout. Neváhejte se proto na nás obrátit s Vaším konkrétním dotazem.