Nanomechanické přístroje pro mikroskopy

Kvantitativní nanomechanika vylepšená o sílu mikroskopie


Bruker vyvinul obsáhlou řadu nanomechanických a nano tribologických testovacích přístrojů, které pracují ve spojení s různými mikroskopickými technikami. Díky kombinaci výhod pokročilých mikroskopických technologií s kvantitativní in-situ nanomechanickou charakterizací je možné rychlejší zkoumání a pochopení chování materiálů na nanometrických škálách.

Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter

Další generace in-situ testovacích nanomechanických přístrojů

Bruker představil další generaci indentačních přístrojů Hysitron PicoIndenter pro skenovací elektronové mikroskopy: PI 89 SEM PicoIndenter. Díky vylepšením technologie kapacitního transduceru nabízí PI 89 SEM testování větší zátěží, v extrémnějším prostředí a výkonost v nanomechanickém testování.

Unikátní vlastnosti:

Nedostižná kontrola a výkon
Poskytuje poziční kontrolu od méně než 1 µN do 3.5 N, rychlost zpětné vazby 78 kHz a sběru dat až 39 kHz, což umožnuje zachycení i rychlých, transientních jevů

Všestranný modulární design

podporuje celou řadu in-situ testovacích technik a volitelných modulů včetně zvýšené teploty, nanoTribology, elektrické charakterizace, nanoDynamic, Push-to-Pull (PTP), direct-pull tension, high strain rate a scanning probe microscopy imaging

Inovativní technologie stolku

Umožňuje precizní kontrolu polohy vzorku v XYZ, rotaci a náklonu pro spolehlivé a opakovatelní testování, mapování vlastností, in-situ FIB milling a analytické zobrazovací techniky s detektory EBSD, EDS, BSE a TKD.

Více zde »

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter

Kvantitativní nanomechanické testování ve vašem TEM s přímým pozorováním

První plnohodnotný hloubkově citlivý indentor schopný přímého pozorování nanomechanického testování uvnitř transmisního elektronového mikroskopu – TEM. Pikoindentor PI 95 TEM je vysoce uzpůsobitelný a lze jej vylepšit o řadu příslušenství pro zahřívání, elektrická nebo tribologická (scratch) měření. Integrované video rozhraní umožňuje synchronizaci mezi křivkami zatížení a posunutí a odpovídajícím TEM videem. Bruker nabízí modely kompatibilní s přístroji JEOL, Thermo Fisher (FEI), Hitachi a Zeiss.

Více zde »

Hysitron PI 85E

Rozšíření možností o nanomechanické testování pro skenovací elektronové mikroskopy.

Hysitron PI 85E rozšiřuje možnosti nanomechanického testování v oblasti v mikro a nano měřítku.
Tento nanomechanický testovací systém s hloubkovým snímáním je speciálně navržen, aby využil pokročilé zobrazovací schopnosti rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM, FIB/SEM, PFIB) při současném provádění kvantitativního nanomechanického testování. Rozšíření rozsahu sil umožňuje měření velkých a tvrdých materiálů vyžadující větší síly.

Přístroj PI 85E nabízí testování pomocí indentace, tlaku, tahu a únavy materiálu v celém spektru materiálů (od kovů a slitin po keramiku, kompozity a polovodičové materiály). Kompaktní, nízkoprofilová architektura PI 85E z něj dělá ideální zařízení pro malokomorové SEM, Ramanovy a optické mikroskopy, urychlovače a další. 

Modulární – Sada základních testovacích technik
Podporuje nanoindentaci, kompresi, tah, únavu materiálu, PTP, E-PTP a elektrickou charakterizaci.

Nezbytný – SEM příslušenství
Umožňuje spolehlivá měření technikům a operátorům v zařízeních pro více uživatelů.

Rozšíření – silový rozsah
Poskytuje možnosti vysokého a nízkého posunu pro testování vysoce pevných a vysoce poddajných vzorků.

Více zde »

Hysitron PI 80 SEM Picoindenter

Základní nástroj pro in situ nanomechanické testováníBruker PI 80 SEM PicoIndenter je nanomechanický testovací přístroj speciálně navržený pro rozšíření zobrazovacích schopností rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM, FIB/SEM, PFIB). S tímto základním nanoindentačním nástrojem je možné provádět kvantitativní in-situ nanomechanické testování při současném zobrazování pomocí SEM. Díky špičkovému kapacitnímu převodníku Bruker poskytuje PI 80 výjimečný výkon a vynikající stabilitu při měření nanoměřítku. Jeho kompaktní design s nízkým profilem dělá z přístroje ideální volbu pro malokomorové SEM, stejně jako samostatné Ramanovy a optické mikroskopy, urychlovače a další. Díky kombinaci funkcí, testovacích režimů a volitelného příslušenství nabízí PI 80 SEM PicoIndenter vynikající nástroj pro pokročilé testování nanomechanických vlastností pro SEM. 

Více zde »

Hysitron IntraSpect 360

Kvantitativní in-situ nanomechanické testování v XRM a beamlines

Bruker s hrdostí představuje systém IntraSpect 360. Jedná se o nejnovější přírůstek do rodiny přístrojů Hysitron pro in-situ mechanické testování určený pro rentgenové mikroskopy (XRM) a beamlines na synchrotronech. Tento unikátní systém může být použit pro řadu mechanických testů jako je indentace, kompresní únava nebo ohyb, které mohou být následně korelovány s 2D a 3D snímky z hostujícího mikroskopu.

Více zde »

Hysitron TS 75 TriboScope

Vylepšete charakterizační možnosti vašeho AFM 

Hysitron TriboScope přináší do světa AFM kvantitativní nanoindentaci tuhou sondou a možnosti nanotribologické charakterizace vašich vzorků. Hysitron TriboScope lze propojit s AFM přístroji Bruker: Dimension Icon, Dimension Edge, a MultiMode 8. Díky použití tuhé testovací sondy, Hysitron TriboScope odstraňuje vnitřní limitace, variabilitu a komplexitu spojenou s měřeními využívajícími raménko AFM (cantilever) a poskytuje kvantitativní a reprodukovatelné mechanické a tribologické charakterizaci na nanometrových až mikrometrových škálách.

Více zde »

BioSoft In-Situ Indenter

Přeměňte váš optický mikroskop na výkonný testovací systém biomateriálů

BioSoft In-Situ Indenter
 je první přístroj svého druhu pro kvantitativní multiscale mechanické testování biologických a obecně měkkých materiálů, jako např. hydrogely. Synchronizace mechanických a optických charakterizačních technik dovoluje jeho uživatelům dosáhnout úplné pochopení mechaniky biomateriálů. Tento přenosný systém lze integrovat do stávajících přímých nebo inverzích mikroskopů.

Více zde »

Mám zájem o přístroj

Nanomechanické přístroje pro mikroskopy

Kontaktujte našeho obchodníka

Jakub Horák

Jakub Horák

obchodní zástupce

Připrava a charakterizace materiálů, mXRF, tXRF, bioAFM