nanoIR3

AFM-IR: infračervená absorpční spektroskopie v AFM – jednoznačné chemické mapování povrchu 

Komunita AFM vyvinula celou řadu různých zobrazovacích metod, které poskytují kontrast mezi různými materiály na principu tření, disipace, tuhosti atd. Ačkoli všechny tyto techniky jsou extrémně užitečné, žádná z nich neposkytuje jednoznačnou identifikaci materiálu povrchu. AFM-IR je první technikou, která tuto možnost pro velkou třídu materiálů nabízí.


AFM-IR: Jak to funguje

Metoda AFM-IR funguje na principu ozáření vzorku pulzy infračerveného záření a následné detekci tepelné expanze materiálu pomocí hrotu AFM. Při ozáření vzorku konkrétní vlnovou délkou dochází k absorpci záření úměrné absorpčnímu koeficientu a rychlému tepelnému ohřevu a expanzi materiálu. Tento pohyb pak v přiblíženém AFM hrotu vybudí rezonanční oscilaci, jejíž amplituda je úměrná absorpčnímu koeficientu. Využitím vhodného pulzního laditelného IR zdroje pak lze měřit spektrální závislost, která má přímou spojitost s klasickým FTIR spektrem. Laterální rozlišení této metody je přitom dáno rozlišením AFM, tedy i méně než 10 nm


Výkonné, plně vybavené AFM

NanoIR3 není jen jednoúčelový přístroj, ale nabízí celou řadu rutinně používaných zobrazovacích AFM módů: tapping, phase, contact, force curves, lateral force, force modulation, EFM, MFM, CAFM a proprietární módy Anasys – nanothermal analysis a Lorentz Contact Resonance.


Technologie FASTspectra a HYPERspectra– spektrum za pár vteřin 

NanoIR3 v sobě obsahuje technologie FASTspectra a nově i HYPERspectra, které na platformu nanoIR řádové zrychlení typické akviziční doby pro změření jednoho bodového spektra. Výsledkem jsou detailní IR spektra už za několik vteřin. Laserová technologie HYPERspectra zejména rozšiřuje vlnočtový rozsah rezonančně zesíleného AFM-IR o valenční (stretch) vibrace O-H, C-H a N-H.

Mám zájem o přístroj

nanoIR3

Kontaktujte našeho obchodníka

Dušan Novotný

obchodní zástupce

Příprava a charakterizace materiálů

Kontaktujte našeho obchodníka

Jakub Horák

obchodní zástupce

Připrava a charakterizace materiálů, mXRF, tXRF, bioAFM