PHOTON RT UV-VIS-MWIR

PHOTON RT UV-VIS-MWIR SPECTROPHOTOMETER

UV-VIS-MWIR spektrofotometr pro optické povlaky

První spektrofotometr na světě určený pro optické povlaky
Jediný přístroj na světě s možností měření polarizace UV-MWIR (220-5200 nm), jedinečnou příležitostí nabízející hlubší vhled do skutečného výkonu optických povlaků
Skenovací spektrofotometr PHOTON RT UV-VIS-MWIR je navržen speciálně pro bezobslužné měření optických vzorků s povlaky. Přístroj se vyrábí v šesti konfiguracích vzhledem k efektivnímu rozsahu vlnových délek – od 185 nm až do 5200 nm.

KLÍČOVÉ VÝHODY:

  • Konfigurace rekordně širokého vlnového rozsahu v jediném přístroji: 185-5200 nm
  • Více než 10x rychlejší měření ve srovnání s jinými nástroji na trhu
  • Po změně úhlu dopadu není třeba znovu kalibrovat baseline
  • Měření propustnosti a absolutní zrcadlové odrazivosti ze stejné oblasti na substrátu – ideální pro zpětnou analýzu designu tenkých vrstev
  • Nejmodernější hlava měřicího kanálu představuje nejsložitější a nejschopnější mechanismus svého druhu pro charakterizaci povlaků při různých AOI, polarizacích, s širokým rozsahem odchylky paprsku a posuvu paprsku až +/- 60,0 mm
  • Plně bezobslužné měření sofistikovaných jednoprvkových a cementovaných hranolů: štípačky, holubičkové hranoly, pravoúhlé hranoly, penta a půl penta hranoly, kosočtverečné hranoly, střešní hranoly, Schmidtovy hranoly, Pechanovy hranoly. Hranoly lze namontovat nebo odmontovat.
  • Minimalizovaná možnost lidské chyby v procesu měření díky plně automatizovaným postupům
  • Tichý a hladký mechanismus pro zvedání a spouštění víka

Specifikace

 PHOTON RT spektrofotometr.
Konfigurace produktu
MODEL021702260252
OPTICKÁ KONFIGURACE
Photometrické funkce%T, %R
Efektivní rozsah vlnových délek, nm185 – 1700185 – 2600185 – 5200
Vestavěný polarizátor, nm220 – 1700220 – 2600220 – 5200
Optické schéma monochromátoruCzerny-Turner
OptikaZrcadlo, MgF2
Referenční kanálAno
Vzorkovací výška vlnové délky, nm0,1 – 100
Velikost bodu na měřeném vzorku, mm6 x 2 → 2 x 2
Úhel natočení vzorkovacího stupně0,01 deg
Úhel natočení fotodetektorů0,01 deg
Kompenzace posunutí paprsku-60,0 mm … 0 … +60,0 mm
(skutečná hodnota závisí na poloze detektoru)
Měření proměnných úhlů1) 0–75 stupňů pro propustnost (až 85 stupňů se vzorkovacím stupněm 7085)
2) 8 – 75 stupňů pro absolutní odrazivost (až 85 stupňů se vzorkem 7085)
3) Rozsah otáčení detektoru: 300 stupňů… 180 stupňů… 16 stupňů
4) Rozsah otáčení podstavce vzorku: -85 stupňů… 0 stupňů… +85 stupňů
Podrozsahy vlnových délek, nmMaximální spektrální rozlišení, nm (nepolarizované světlo)Přesnost vlnové délky, nmPřesnost opakování vlnové délky, nm
185  – 990 nm0,6+/- 0,5+/- 0,25
990 – 1700 / 2450 / 2600 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
2450 – 5200 nmN/AN/A+/- 2,0
Úroveň rozptýleného světla, % při 532 nm˂ 0,1
Úhel divergence paprsku+/-1 deg
Fotometrická přesnost(VIS)NIST SRM 930e: +/-0,003 Abs (1Abs)NIST SRM 1930: +/-0,003 Abs (0,33Abs); +/-0,006 Abs (2Abs) (MWIR)NRC NG11 SRM: +/-0,0013 Abs (0,13 Abs); +/-0,0053 Abs (0,49 Abs); +/-0,0011 Abs (0,82 Abs); +/-0,005 Abs (1,0 Abs) Určeno pomocí akumulace 0,1 sekundy, maximální odchylka pro 10 následujících měření
Fotometrická přesnost opakování (rozsah VIS)(VIS)NIST SRM 930e: 0,0004 Abs (1 Abs)NIST SRM 1930: 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (2 Abs) (MWIR)NRC NG11 SRM: +/-0,0003 Abs (0,13 Abs); +/-0,0008 Abs (0,49 Abs); +/-0,0022 Abs (0,82 Abs); +/-0,0034 Abs (1,0 Abs) Určeno pomocí akumulace 0,1 sekundy, maximální odchylka pro 10 následujících měření
Stabilita základní linie, %/hod (rozsah VIS)˂ 0,1 (doba zahřívání je jedna hodina)
Bezobslužné měření polarizace s vestavěnými polarizátoryS, P, (S + P) / 2
Nulový řád / Zelený paprsekVestavěný, automatický
Světelné zdroje, předinstalovanéDeuteriová lampa: 1 ea
Halogenová žárovka: 1 ks
Zdroj IR: 1 kus (model 0252)
Kalibrační lampa pro vlnovou délku HgAr: 1 kus
Světelné zdroje, náhradníHalogenová žárovka: 2 kusy (součástí dodávky).
Další náhradní světelné zdroje lze doobjednat
VZORKOVÁ KOMORA
Rybinová základní deska pro vzorkové stageUrčeno pro montáž motorizovaných a nemotorových vzorkových stolků. Integrovaný ovladač zajišťuje okamžitou detekci motorizovaného stupně
Plošná stage pro vzorekPro měření propustnosti a odrazu rovinných vzorků o velikosti větší než 12,0 x 10,0 mm
Nezávislé polohováníNezávislé počítačem řízené polohování stojanu vzorku a jednotky fotodetektorů
Synchronizované polohováníSynchronizované počítačem řízené polohování stojanu vzorku a jednotky fotodetektorů v závislosti na zvolené fotometrické funkci
Velikost vzorkůMin. 12,0 x 10,0 mm – pro měření při úhlech dopadu 0 – 10 stupňůMin. 12,0 x 25,0 mm – pro měření při úhlech dopadu 10 – 75 stupňůMax. velikost vzorku: až 152,4 mm (6″) se zavřeným víkem pro standardní stolek na vzorkyaž do 140,0 mm (5 1/2″) se zavřeným víkem pro stojan vzorku Z
Stage pro vzorky pro PBS krychle50,0 x 50,0 x 50,0 mm stage pro vzorky s dvěma dalšími držáky 1″ x 1″ x 1″ a 1/2″ x 1/2″ x 1/2″
Volitelný motorizovaný a nemotorizovaný vzorek1. MP Stage. Měření více vzorků
2. Stage XY. XY ukázkové mapování
3. Fáze XY-MZF. Měření vícezónových filtrů a lineárních proměnných filtrů
4. Fáze Z. Sekvenční základní kalibrace a měření vzorku bez otevření víka
5. QW fáze. Testování vlnových desek
6. R fáze. Otočení vzorku o 360 stupňů kolem osy paprsku
7. 7085 etapa. Měření při extrémních úhlech dopadu až do 85 st
INTERFACE, ROZMĚRY A VÁHA
RozhraníUSB 2.0, Windows-based, English
Formáty ukládání datres (txt), xls, pdf, csv
Spotřeba energie, Watt110
Příkon110 – 220 V (+/-10%), 50 – 60 Hz
Šířka x hloubka x výška, mm (palce)425 x 625 x 285 (16 3/4″ x 24 2/3″ x 10 1/5″)
Čistá hmotnost, kg (lbs)50 (110)

Mám zájem o přístroj

PHOTON RT UV-VIS-MWIR

Kontaktujte našeho obchodníka

Dušan Novotný

Dušan Novotný

obchodní zástupce

Příprava a charakterizace materiálů

Kontaktujte našeho obchodníka

Jakub Horák

Jakub Horák

obchodní zástupce

Připrava a charakterizace materiálů, mXRF, tXRF, bioAFM