FESEM s ultravysokým rozlišením | SEM5000X
Skenovací elektronová mikroskopie s polní emisí s ultravysokým rozlišením (FESEM)
CIQTEK SEM5000X je FESEM s ultravysokým rozlišením a optimalizovanou konstrukcí elektronového optického sloupce, který snižuje celkové aberace o 30 % a dosahuje ultravysokého rozlišení 0,6 nm při 15 kV a 1,0 nm při 1 kV. Jeho vysoké rozlišení a stabilita ho činí výhodným pro pokročilý výzkum nanostrukturních materiálů, stejně jako pro vývoj a výrobu vysoce technologických polovodičových integrovaných obvodů.
Klíčové vlasnosti
- Průlomová rozlišovací schopnost
- Mechanický eucentrický stolek pro vzorky
- Režim zpomalení s dvojitým paprskem (Duo-Dec)
- Zajišťovací mechanismus pro výměnu vzorku (kompatibilní s 8 palci)
- Vysoká stabilita
- Vynikající rozšiřitelnost
Vylepšený objektiv
Chromatická aberace objektivu byla snížena o 12 %, sférická aberace objektivu o 20 % a celková aberace o 30 %.
Technologie dvojitého zpomalení paprsku
Zpomalení paprsku v čočce, použitelné pro vzorky s velkými objemy, průřezy a nepravidelnými povrchy. Technologie dvojitého zpomalení (zpomalení paprsku v čočce + tandemové zpomalení paprsku na stolku vzorku) posouvá limity zachycování signálu z povrchu vzorku.
Software
Particle & Pore Analysis Software (Particle) *Optional
Software pro mikroskop CIQTEK SEM využívá různé algoritmy pro detekci a segmentaci cílů, vhodné pro různé typy vzorků částic a pórů. Umožňuje kvantitativní analýzu statistik částic a pórů a lze jej použít v oblastech, jako je materiálový výzkum, geologie a environmentální vědy.
Image Post-Processing Software *Optional
Online nebo offline postprocessing obrazu pořízeného elektronovými mikroskopy integrujte běžně používané funkce pro zpracování elektromagnetického obrazu. Umožňuje pohodlné měření a nástroje pro anotaci.
Auto Measurement *Optional
Automatické rozpoznávání hran šířky čar vede k přesnějším měřením a vyšší konzistenci. Podpora více režimů detekce hran, jako je čára, prostor, rozteč atd. Kompatibilní s různými obrazovými formáty a vybavený různými běžně používanými funkcemi pro následné zpracování obrazu. Software je snadno použitelný, efektivní a přesný.
Software Development Kit (SDK) *Optional
Poskytuje sadu rozhraní pro ovládání SEM mikroskopu, včetně snímání obrazu, nastavení provozních podmínek, zapínání/vypínání, ovládání stolku atd. Stručné definice rozhraní umožňují rychlý vývoj specifických skriptů a softwaru pro obsluhu elektronového mikroskopu, což umožňuje automatizované sledování oblastí zájmu, sběr dat z průmyslové automatizace, korekci driftu obrazu a další funkce. Lze jej použít pro vývoj softwaru ve specializovaných oblastech, jako je analýza rozsivek, kontrola nečistot v oceli, analýza čistoty, kontrola surovin atd.