Skip to content
info@mt-m.eu
+420 513 034 408
Přihlásit
|
Registrovat
0.00
Kč
0
Cart
zákaznická sekce
Domů
Produkty
Analýza a zobrazování povrchů
Mikroskopie skenující sondou - AFM, bioAFM, UHV AFM
Materiálové AFM
Bio AFM
Povrchová analýza - XPS, SIMS, etc.
Stolní elektronové mikroskopy - SEM
3D optické a mechanické profilometry
Detektory pro elektronovou mikroskopii - EDS, WDS, EBSD, etc.
Příprava a charakterizace tenkých vrstev
CVD - Chemická depozice z plynné fáze, ALD
Elipsometry a reflektometry
PVD – napařovací a naprašovací depoziční systémy – PLD, MBE
Plazmochemická depozice a leptání – PECVD, RIE, PEALD
Rentgenové analytické techniky
Rentgenové fluorescenční spektrometry
Rentgenové monokrystalové difraktometry
Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF
Rentgenové práškové difraktometry
3D rentgenová mikroskopie (XRM)
Magnetická rezonance
Nukleární magnetická rezonance
Elektronová paramagnetická rezonance
Multimodální mikroskopie
Fototermální spektroskopie
Měření záření a světla
Měření optických členů
Jasové kamery
Goniofotometry, systémy pro měření svítidel
Spektroradiometry pro měření světla
Laboratorní příslušenství
Spotřební materiál pro XRF
Mlýnky, drtičky a síta
Tavičky
Lisy
Termická analýza
Diferenční skenovací kalorimetry
Termogravimetrické analyzátory
Dynamické mechanické analyzátory
Mikrokalorimetry
Měřiče tepelné vodivosti
Mechanické testování
Indentory a tribometry
Dilatometry
Reometry a viskozimetry
ElectroForce – mechanické testery
Testování gumy
Flash Diffusivita
O nás
Podpora
Aktuálně
Události
E-shop
Kontakt
Search
Search
Close this search box.
Search
Search
Close this search box.
0.00
Kč
0
Cart
Kalendáře a knihy
Vašemu výběru neodpovídají žádné produkty.
