Tři nové detektory Bruker pro SEM: EDS i EBSD na nové úrovni

Vážené kolegyně, vážení kolegové,

Bruker právě rozšířil portfolio detektorů pro skenovací elektronovou mikroskopii o tři novinky, které posouvají hranice prvkové a strukturní analýzy. Jako zástupce Brukeru v České republice vám je rádi představíme blíže.

1. XFlash® FlatQUAD 2L — anulární EDS detektor

Čtyři SDD segmenty o celkové ploše 100 mm² rozmístěné anulárně kolem centrální apertury, umístěné mezi vzorkem a pólovým nástavcem SEM. Nová verze 2L přináší zvětšenou centrální aperturu, která umožňuje paralelní BSE zobrazování — bez dopadu na výkon.

• Prostorový úhel nad 1 sr a take-off angle nad 60°
• ICR nad 10 000 000 cps, OCR až 4 000 000 cps
• Energetické rozlišení 127 eV na Mn Kα (dostupné i třídy 129 a 133 eV)
• Současný sběr kompozičních (EDS) a kontrastních (BSE) informací
• Provoz v nízkém i vysokém vakuu, polohování v osách X, Y, Z

Ideální pro nanostrukturované a nevodivé vzorky, topografické povrchy, vzorky citlivé na svazek a STEM-in-SEM zobrazování.

Webinář: „on demand“

Přednášející: Andi Kaeppel a Dr. Purvesh Soni, Bruker Electron Microscope Analyzers

👉 REGISTRACE

2. XFlash® 7200 FIRE — inklinovaná 4kanálová detekce

Zcela nový přístup k vysokovýkonné rentgenové analýze v SEM, postavený na čtyřsegmentové integrované detekční technologii. Kombinuje vysokou průchodnost, výborné energetické rozlišení a mimořádnou citlivost — bez kompromisů typických pro velkoplošné detektory.

Webinář: 27. října 2026

• Session I: 10:00
• Session II: 17:00

Přednášející: Dr. Purvesh Soni a Dr. Sebastian Schmidt, Bruker Electron Microscope Analyzers

👉 REGISTRACE

3. eWARP TKD — ultrarychlá transmisní Kikuchiho difrakce

Nejnovější člen oceňované rodiny eWARP, navržený speciálně pro TKD
(transmisní EBSD) 

v „on-axis“ geometrii. Nově vyvinutý pixelovaný senzor 162 × 162 pixelů 

s aktivní plochou přes 26 × 26 mm².

• Orientační a fázové mapy ve vysoké kvalitě za 1–5 minut,
  rychlost až 5 700 fps
• Prostorové rozlišení lepší než 2 nm ve kombinaci s high-end FE-SEM
• Integrované DF a BF zobrazování díky patentovanému on-chip binningu
• Časově rozlišené mapování při in-situ experimentech
  (ohřev, mechanické testy)
• Nízké požadavky na svazek — korekce driftu se stává zbytečnou
• Vhodné pro vzorky citlivé na svazek (low-dose, low-kV TKD)

Webinář: 7. října 2026

• Session I: 10:00
• Session II: 17:00

Přednášející: Dr. Daniel Goran, Product Manager EBSD, Bruker Electron Microscope Analyzers

👉 REGISTRACE

Rádi s vámi probereme, který z detektorů nejlépe odpovídá vašim aplikacím a typu mikroskopu, případně zajistíme demonstraci nebo měření vzorku.

Stačí nás kontaktovat na e-mail nebo nám zavolat.

Jakub Horák

jakub.horak@mt-m.eu

+420 730 896 958