XFlash® FlatQUAD 2L: Step Into The Future of SEM Elemental Analysis
XFlash® FlatQUAD 2L: Vstupte do budoucnosti prvkové analýzy na SEM
Úterý 22. září 2026
- 1. blok: 10:00
- 2. blok: 17:00
Oba bloky mají shodný obsah — vyberte si termín, který vám lépe vyhovuje.
Představujeme FlatQUAD 2L: maximální sběrná účinnost se současným BSE zobrazením
Přijďte se seznámit s novým EDS detektorem XFlash® FlatQUAD™ 2L — průlomovým řešením společnosti Bruker, které jako jediné kombinuje špičkovou účinnost sběru rentgenového záření se současným BSE zobrazením.
Detektor využívá inovativní prstencovou čtyřsegmentovou SDD konstrukci umístěnou mezi pólovým nástavcem SEM a vzorkem. Díky tomu poskytuje dokonale koregistrovanou informaci o složení i kontrastu v rámci jediné akvizice.
Co se dozvíte
Na webináři uvidíte, jak současný sběr EDS a BSE dat:
- zrychluje pracovní postupy — kompoziční a kontrastní informace v jednom měření
- snižuje elektronovou dávku na vzorcích citlivých na svazek
- přináší hlubší vhled do složitých struktur
Dozvíte se také, jaké nové možnosti tato jedinečná technologie otevírá při charakterizaci polovodičů, bateriových materiálů, nanočástic, biologických vzorků, FIB lamel a dalších pokročilých materiálů vyžadujících korelativní analýzu s vysokým rozlišením.
Buďte mezi prvními, kdo si vyzkouší budoucnost SEM analytiky s XFlash® FlatQUAD™ 2L.
Přednášející
Andi Kaeppel Sr. Product Manager EDS on SEM, Bruker Electron Microscope Analyzers
Dr. Purvesh Soni Sr. Applications Scientist EDS, Bruker Electron Microscope Analyzers
Pro koho je webinář určen
Pro uživatele elektronové mikroskopie a EDS analýzy, pracovníky materiálových a analytických laboratoří, výzkumníky v oblasti polovodičů, bateriových materiálů a nanomateriálů i pro odborníky zabývající se přípravou a analýzou FIB lamel a vzorků citlivých na elektronový svazek.
Máte dotaz k EDS detektorům Bruker nebo chcete konzultovat konkrétní aplikaci? Ozvěte se nám — jako distributor Bruker pro Českou republiku vám rádi poradíme.