nanoIR3-s

Dvě komplementární nanoškálové IR techniky: s-SNOM a AFM-IR v jednom 

Přístroj nanoIR3-s kromě AFM-IR obsahuje i techniku s-SNOM (scattering-Scanning Near-field optical microscopy), která ji vhodně doplňuje zejména na vzorcích s méně výraznou absorpcí nebo malým koeficientem tepelné roztažnosti. Technika s-SNOM detekuje světlo rozptýlené v těsné blízkosti pod AFM hrotem a v kombinaci s referencí na známém povrchu a vhodným modelem může poskytnout lokální optické konstanty zkoumaného povrchu.

NanoIR3-s nabízí nejvyšší výkon pro nano-FTIR spektroskopii s prostorovým rozlišením 10 nm pro chemické i optické zobrazování a korelativní zobrazování. Uživatelé ocení snadnost použití, produktivitu a spolehlivost přístroje navrženého firmou Anasys.