Kategorie produktů
Analýza a zobrazování povrchů (63)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
Elektronové mikroskopy (13)
Laboratorní příslušenství (15)
Magnetická rezonance (10)
Mechanické testování (55)
Měření záření a světla (18)
Multimodální mikroskopie (4)
Rentgenové analytické techniky (25)
Termická analýza (27)
- Analýza a zobrazování povrchů (63)
- Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
- Elektronové mikroskopy (13)
- Laboratorní příslušenství (15)
- Magnetická rezonance (10)
- Mechanické testování (55)
- Měření záření a světla (18)
- Multimodální mikroskopie (4)
- Rentgenové analytické techniky (25)
- Termická analýza (27)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev
Zde naleznete techniky pro přípravu a charakterizaci tenkých vrstev. Depoziční techniky zahrnují fyzikální (PVD), chemické (CVD) i plazmochemické (PECVD) techniky. Plazmové leptání je zařazeno mezi PECVD techniky. Pro charakterizaci tenkých vrstev můžeme nabídnout elipsometry a reflektometry, optické a mechanické profilometry a případně maloúhlový rozptyl (GI)SAXS.