Kategorie produktů
Analýza a zobrazování povrchů (74)
- Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
- Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy (10)
- Laboratorní příslušenství (18)
- Magnetická rezonance (9)
- Mechanické testování (55)
- Měření záření a světla (16)
- Rentgenové analytické techniky (24)
- Termická analýza (25)
- Analýza a zobrazování povrchů (74)
- Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
- Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy (10)
- Laboratorní příslušenství (18)
- Magnetická rezonance (9)
- Mechanické testování (55)
- Měření záření a světla (16)
- Rentgenové analytické techniky (24)
- Termická analýza (25)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev
Zde naleznete techniky pro přípravu a charakterizaci tenkých vrstev. Depoziční techniky zahrnují fyzikální (PVD), chemické (CVD) i plazmochemické (PECVD) techniky. Plazmové leptání je zařazeno mezi PECVD techniky. Pro charakterizaci tenkých vrstev můžeme nabídnout elipsometry a reflektometry, optické a mechanické profilometry a případně maloúhlový rozptyl (GI)SAXS.
