Fotoelektronové systémy PREVAC

Platforma pro fotoelektronovou spektroskopii: XPS/UPS/ARPES

Produktová řada systémů pro povrchovou analýzu od PREVAC je založena na vysoce flexibilním analytickém nástroji optimalizovaném pro měření XPS (ESCA), UPS, ARPES, ISS a AES. Energiové rozlišení hemisférického analyzátoru je 3 meV (FWHM při energy 2eV). Se spektrometrem se dodává univerzální řídicí software, který ukládá data v otevřeném standardním formátu (JSON) a umožňuje export dat do řady dalších formátů (hdf5, ini, txt), které jsou používány různými program vyhodnocování XPS spekter.

Komponenty a klíčové vlastnosti:

  • Analytická komora vyrobená z μ-kovupřipravená pro další, přídavné zařízení. Základního tlaku 10-10 mbar (po vypékání na 150 °C),
  • Hemisférický analyzátor energieEA15 vybavený celkem 11 štěrbinami, analyzátor nabízí možnost volby mezi nejlepším energetickým rozlišením a nejlepší intenzitou. Střední poloměr: 150 mm. Rozsah kinetické energie: 0,5 – 3 000 eV,
  • Rentgenový zdroj RS 40B1 – vysoce intenzivní rentgenový zdroj s dvojitou anodou,
  • Monochromátor RMC50 s ovládacím příslušenstvím (regulátor emise, chladicí box a zdroj vysokého napětí pro provoz rentgenového zdroje RMC50 i RS40B1), 
  • UV zdroj UVS 40A2,
  • Iontový zdroj IS 40E1
  • Neutralizační zdroj FS 40A1
  • RUDI-EA2 – vysoce stabilní a nízkošumová elektronika,
  • SPECTRIUM – progresivní a optimalizovaný softwarový nástroj z hlediska manipulace a intuitivního grafického rozhraní,
  • Spolehlivý, 4, 5 nebo 6 osý plně motorizovaný UHV manipulátor (s vytápěním a chlazením),
  • Čerpací systém pro analytickou komoru a komponenty,
  • Systém dávkování plynu pro analytickou komoru.

Mám zájem o přístroj

Fotoelektronové systémy PREVAC

Kontaktujte našeho obchodníka

Dušan Novotný

obchodní zástupce

Příprava a charakterizace materiálů

Kontaktujte našeho obchodníka

Jakub Horák

obchodní zástupce

Připrava a charakterizace materiálů, mXRF, tXRF, bioAFM