EDS systém BRUKER XFlash 630 H

Jednoduchá prvková mikroanalýza díky modulu rentgenové spektroskopie ve stolních elektronových mikroskopech

Přidáním modulu rentgenové spektroskopie tzv. energiově rozlišené rentgenové spektroskopie (EDS) do Vašeho stolního elektronového mikroskopu získáte silný analytický nástroj nyní rozšířený o řadu možností použití pro pokročilou mikroanalýzu a prvkovou analýzu.
Při implementaci do stolních mikroskopů SEC je EDS signál je sbírán pod optimální pevným úhlem na rozdíl od některých jiných SEM designů, které mají úhel sběru signálu velmi blízko rovině vzorku.
To v kombinaci s velkou plochou detektoru zajištuje výborný signál pro rychlou a spolehlivou analýzu.

XFlash 630 H
XFlash 630 H

Hlavní technické parametry modulu rentgenové spektroskopie XFlash 630 H

  • Rychlý SDD detektor bez nutnosti chlazení kapalným dusíkem
  • Rozlišení energie lepší než 129 eV (pro Mn K alpha)
  • plocha detektoru 30 mm2
  • detekce prvků v rozmezí 5B – 95Am
  • maximální intenzita signálu > 150 kcps
  • software umožňuje kvalitativní a kvantitativní analýzu, mapování po čáře nebo ploše

Mám zájem o přístroj

EDS systém BRUKER XFlash 630 H

Kontaktujte našeho obchodníka

Jakub Horák

obchodní zástupce

Připrava a charakterizace materiálů, mXRF, tXRF, bioAFM