SNE-4500M Plus B

Stolní elektronový mikroskop s vysokým zvětšením 150 000x

Stolní elektronové mikroskopy řady SNE-4500 dosahují rozlišení klasických floor-top mikroskopů při udržení kompaktní velikosti. Mikroskop je v režimu sekundárních elektronů (SE) schopen při maximálním urychlovacím napětí 30 kV dosáhnout rozlišení až 5 nm. V režimu zpětně odražených elektronů pak 8 nm.

Mikroskop cílí zejména na uživatele, kteří vyžadují rutinní inspekci vzorků ve vysokém rozlišením. Této filosofii odpovídá i design a software zaměřený na vysokou produktivitu a snadnost použití. Všechny běžné hlavní ladící parametry (stigmatismus, ostrost, kontrast a jas) mohou být použity v automatickém režimu zajišťující komfortní použití i pro začínající uživatele.

Pohyb vzorku v mikroskopu je možný v pěti stupních volnosti – X, Y, Z, otáčení v rovině držáku vzorku (R) a jeho naklánění (T). Pohyb je plně motorizovaný a nechybí ani ochrana proti poškození apertury při náklonu vzorku. Základem je také vybavení zařízení volitelnou aperturou 30, 50, 50, 100 µm.

Hlavní technické parametry

Elektronový systém:

• Rozlišení: 5 nm (30 kV, mód sekundárních elektronů)
• Zvětšení: 20× – 150 000×
• Urychlovací napětí: 1–30 kV (1/5/10/15/20/30 kV)

Detektor:

• pro sekundární elektrony (SE)
• pro zpětně odražené elektrony (BSE)
• Zdroj elektronů: wolframové vlákno

Pohyb vzorku:   

Plně automatizovaný pětiosý systém: X, Y, Z, R, T
Osy X, Y: 40 mm / rotace R: 360°
Osa Z: 0–40 mm / manuální naklánění T: – 45° až 90°
Maximální velikost vzorku: 80 mm v průměru, výška 50 mm

Automatické funkce Auto Start, Auto Focus, Auto Stigmator, Auto Contrast & Brightness

Vakuový systém: pro vysoké i nízké vakuum
Čerpání pomocí rotační a turbomolekulární vývěvy (plně automatizované)

Rozměry:

• Hlavní jednotka: 390 × 560 × 380 mm (šířka × výška × hloubka), 88 kg
• Kontrolní jednotka: 390 × 560 × 325 mm (šířka × výška × hloubka), 37 kg
• Rotační vývěva: 400 × 340 × 160 mm (šířka × výška × hloubka), 24 kg