DXF 500

Výkonný vysokorychlostní xenonový zdroj a patentovaná dodávací optika pro nejpřesnější měření tepelné difuzivity až do 500 °C.

Platforma Discovery Xenon Flash DXF 500 obsahuje patentovaný zdroj High-Speed Xenon-pulse Delivery™ (HSXD) a anamorfní mnohostranný Light Pipe™. Tyto optiky společně dodávají vzorku nepřekonatelnou sílu a stejnoměrnou intenzitu světelného pulzu, přičemž zabraňují nadměrnému záblesku držáku vzorku. Konstrukce TA Instruments High-Energy Xenon je schopna testovat vzorky až do průměru 25,4 mm v teplotním rozsahu od okolní teploty do 500 °C. Použití velkých vzorků snižuje chyby spojené s nehomogenitou a umožňuje reprezentativní měření špatně rozptýlených kompozitů. Platforma DXF je určena pro výzkumné a vývojové programy i řízení výroby.

Vlastnosti DXF 500

• Patentovaný systém High-Speed Xenon Pulse-Delivery poskytuje o 50 % více energie než konkurenční konstrukce pro nejvyšší stupeň přesnosti na nejširším rozsahu vzorků bez ohledu na tloušťku nebo tepelnou vodivost
• Patentovaný Light Pipe™ pro nejúčinnější sběr a kolimaci světla a homogenní dodávku záření do vzorku
• Pulzní mapování v reálném čase pro vynikající tepelnou difuzivitu tenkých a vysoce vodivých materiálů
• Široká škála podnosů na vzorky pojme různé velikosti vzorků (až do průměru 25,4 mm), tvary a speciální přípravky (kapaliny, prášky, lamináty, filmy atd.) pro maximální flexibilitu testování vzorků
• Autosampler s patentovanou čtyřpolohovou miskou na vzorky z oxidu hlinitého pro maximální produktivitu
• Pokročilá konstrukce odporově vyhřívané pece poskytuje ve své třídě nejlepší teplotní stabilitu a rovnoměrnost napříč vzorkem od RT do 500 °C a umožňuje měření ve vzduchu, inertním plynu nebo vakuu
• Vysoce citlivý IR detektor pro optimální poměr signálu k šumu, který poskytuje nejvyšší přesnost v celém rozsahu teplot
• Navrženo tak, aby splňovalo průmyslové standardní testovací metody včetně ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-část 4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 a DIN EN821

Specifikace

Laserový zdroj

Type	Benchtop
Energie pulzu (proměnná)	až 15 Joules
Délka pulzu	400 µs – 600 µsec
Proprietární přenosová optika	Patentovaný vedený optický paprsek

Pec

Teplotní rozsah	RT – 500°C
Atmosféra	Vzduch, inertní plyn, vakuum (50 mtorr)

Detekce

Rozsah tepelné difuzivity	0.01 – 1000 mm2/s
Rozsah tepelné vodivosti	0.1 – 2000 W/(m*K)
Získávání dat	16 bit

Přesnost

Tepelná difuzivita	±2.3%
Tepelná vodivost	±4%

Opakovatelnost

Tepelná difuzivita	±2.0%
Tepelná vodivost	±3.5%

Vzorek

Kulatý	8, 10, 12.7, & 25.4 mm průměr
Čtvercový	8, 10, & 12.7 mm délka
Maximální tloušťka	10 mm

Autosampler

Typ	Čtyřpolohový lineární zásobník