Dimension Edge

Cenově nejvýhodnější vysoce výkonné AFM

Mikroskop atomárních sil Dimension Edge přináší do střední cenové třídy mnoho inovací systému Dimension Icon a nabízí tak cenově dostupný vstup do světa výkonných AFM. Dimension Edge je vybaven nástrojem ScanAsyst, který umožňuje automatickou optimalizaci obrazu. Díky tomu přináší jednodušší, rychlejší a konzistentnější výsledky bez ohledu na úroveň zkušeností uživatele. Hardware i software Dimension Edge je navržený pro plné využití současných a budoucích Bruker AFM režimů a technik.

Mikroskop byl od základů navržen tak, aby dodal malý drift a nízký šum (<0,2 nm v ose Z, <0,5 nm v osách X-Y). To umožňuje uživatelům dosáhnout snímků bez rušivých artefaktů během pár minut oproti několika hodinám a celkově tak zvyšuje produktivitu práce s přístrojem.

AFM režimy

Standardní – Contact Mode, Lateral Force Microscopy, TappingMode, PhaseImaging, LiftMode, Magnetic Force Microscopy, Electric Force Microscopy, Dark Lift, Force Spectroscopy, Nanoindentation, Nanolithography, Adhesion, ScanAsyst

Volitelné – Scanning Tunneling Microscopy, Conductive AFM, Tunneling AFM, Scanning Capacitance Microscopy, Surface Potential Microscopy, Piezoresponse Microscopy, Force Modulation Microscopy, Liquid Imaging, Thermal Analysis, Electrochemical AFM