High Speed SEM | HEM6000

HEM6000

Vysokorychlostní elektronový mikroskop s možností plné automatizace, který svou rychlostí konkuruje multisvazkovým mikroskopům.

HEM6000 je stroj vybavený nejmodernějšími technologiemi, aby poskytl maximální rozlišení při vysokých skenovacích rychlostech a nízkém napětí – rychlost je až 5 krát vyšší, než u běžných strojů. HEM6000 tak dokáže nabídnout skvělé rozlišení při rychlosti skenování, která konkuruje multisvazkovým strojům, a to navíc s neporovnatelnou stabilitou svazku oproti konkurenci – odchylka < 1%/24h.

To vše navíc podtrhuje možnost několika úrovní automatizace, HEM6000 najde využití i v kontrole kvality polovodičové výroby.

Unikátní vlastnosti

  • Vysokorychlostní skenování – integrační čas 10 ns/pixel, maximální rychlost skenování obraze 200 mega pixel/s
  • Velké zorné pole – Field of View
  • Nízké zkreslení obrazu

Specifikace

CIQTEK vysokorychlostní SEM mikroskop HEM6000 specifikaceHEM6000-SemiHEM6000-BioHEM6000-Lite
Elektronová optikaRozlišení1,5 nm@1 kV SE1,8 nm@1 kV BSE1,5 nm@15 kV BSE
Urychlovací napětí0,1 kv~6 kV (režim zpomalování)6 kV~30 kV (režim bez zpomalení)6 kV~30 kV
Zvětšení66~1 000 000x
Typ objektivuImerzní elektromagnetická a elektrostatická kombinovaná objektivová čočka
Elektrostatický deflektorPětistupňovýČtyřstupňovýČtyřstupňový
Systém nakládání vzorkůVakuový systémPlně automatický bezolejový vakuový systém
KameryMonitorovací kamera v hlavní komoře Kamera sledující proces výměny vzorků v loadlocku
Maximální velikost vzorku10,16 cm v průměru
StolekMotorový, tříosý stupeň vzorku s volitelným krokem
Rozsah stolkuX, Y: 110 mm; Z: 16 mm
Přesnost nájezdu na poziciX:±0,6 μm; Y:±0,3 μm
Výměna vzorkůPlně automatická
Doba výměny vzorků<15 minut
Čištění komory loadlockuPlně automatický systém čištění plazmou
Získávání a zpracování obrazuIntegrační čas10 ns/pixel
Rychlost skenování2*100 M pixel/s
Velikost obrázku16 K*16 K
Detektor a příslušenstvíDetektor zpětně rozptýlených elektronů s nízkým úhlem, výsuvný (BSED)VolitelnéŽádnéStandard
Detektor zpětně rozptýlených elektronů s nízkým úhlem, pevný (BSED)VolitelnéStandardŽádné
Kombinovaný detektor vnitřníStandardVolitelnéVolitelné
Vnitřní detektor zpětně rozptýlených elektronů pod vysokým úhlemVolitelnéVolitelnéVolitelné
Piezoelektricky řízený stolekVolitelnéVolitelnéVolitelné
Režim s vysokým rozlišením a velkým zorným polem (SW)VolitelnéŽádnéŽádné
Systém čištění plazmou v LoadlockuVolitelnéVolitelnéVolitelné
Systém pro zakládání 6 palcových vzorkůVolitelnéVolitelnéVolitelné
Aktivní antivibrační platformaVolitelnéVolitelnéVolitelné
AI rukukce šumu; Skládání obrazu; 3D rekonstrukceVolitelnéVolitelnéVolitelné
Uživatelské rozhraníJazykAngličtina
OSWindows
NavigaceOptická navigace, gestová navigace
Automatické funkceAutomatické rozpoznávání vzorků, automatický výběr zobrazovacích oblastí, automatická jas a kontrast, automatické ostření, automatický stigmator

Mám zájem o přístroj

High Speed SEM | HEM6000