XFlash® 7200 FIRE

XFlash® 7200 FIRE: Představujeme 4kanálovou rentgenovou detekci pro EDS na SEM

XFlash® 7200 FIRE je náš průlomový detektor pro energiově disperzní rentgenovou spektroskopii (EDS), navržený pro ultra-rychlou a vysoce rozlišenou prvkovou analýzu i za náročných podmínek.

Největší aktivní plocha SDD ve své třídě je tvořena čtyřmi nezávislými segmenty křemíkového driftového detektoru (SDD), z nichž každý má vlastní zpracování pulzů. Tato jedinečná architektura umožňuje detektoru XFlash® 7200 FIRE dosáhnout průmyslově vedoucí výstupní čítací rychlosti (OCR) až 2 400 000 cps, s výjimečnou citlivostí na lehké prvky a vynikajícím rozlišením píků v celém rozsahu EDS spektra.

XFlash® 7200 FIRE: Čtyřsegmentový integrovaný detektor pro rychlou EDS analýzu

Průkopnický, ve své třídě největší XFlash® 7200 FIRE mění možnosti SEM EDS analýzy.

• Urychlete svou kvalitativní i kvantitativní EDS analýzu.
• Mapujte vzorky s nanometrovým rozlišením při průmyslově vedoucích čítacích rychlostech.
• Pracujte s ultra-nízkými mrtvými dobami díky paralelnímu 4násobnému zpracování signálu.
• Identifikujte prvkové linie v celém rozsahu EDS spektra až do 30 keV.
• Detekujte lehké prvky s nejlepší citlivostí na nízkoenergetické rentgenové záření.
• Provádějte STEM-in-SEM EDS analýzu až do 30 kV.
• Provádějte ultra-rychlou, hloubkovou analýzu materiálů s paralelním EBSD mapováním pomocí detektoru eWARP.

Budoucnost EDS začíná zde: Představujeme 4kanálovou rentgenovou detekci

XFlash 7200 FIRE je prvním velkoplošným detektorem svého druhu se 4kanálovým SDD designem pro ultra-vysoce rozlišenou kvantitativní i kvalitativní prvkovou analýzu při nebývale krátkých čítacích časech.

Výjimečný výkon XFlash® 7200 FIRE

Je dán jeho jedinečným designem.

Detektor obsahuje čtyři detekční segmenty s celkovou aktivní plochou 200 mm² a 4násobné paralelní zpracování signálu, čímž dosahuje energetického rozlišení při průmyslově vedoucích čítacích rychlostech až 2 400 000 cps, čímž překonává omezení konvenčních detektorů.

Architektura detektoru XFlash® 7200 FIRE a jeho šikmá geometrie umožňují sběr signálu s největším možným prostorovým úhlem, čímž se maximalizuje sběrná účinnost a podporuje se paralelní ultra-rychlé EBSD a mikro-XRF na SEM pro komplexní materiálovou analýzu.

Vynikající čítací rychlost a sběrná účinnost detektoru podporují ultra-rychlou analýzu při vysokém i nízkém urychlovacím napětí s minimalizovaným driftem vzorku pro prvkové mapování s ultra-vysokým prostorovým rozlišením.

Díky bezokénkovému designu má XFlash® 7200 FIRE vynikající citlivost na nízkoenergetické rentgenové záření pro detekci lehkých prvků a jeho optimalizovaná elektronová past podporuje analýzu v celém rozsahu EDS spektra až do 30 kV.

Posuňte limity možností EDS analýzy s XFlash® 7200 FIRE

Díky segmentovanému 4kanálovému designu, vynikajícímu energetickému rozlišení při vysokých čítacích rychlostech a bezokénkovému provedení vyniká detektor XFlash® 7200 FIRE v náročných SEM EDS aplikacích.

Polovodiče a pokročilé materiály

Kombinace vysoké propustnosti, vynikajícího spektrálního rozlišení a detekce prvků v celém spektru podporuje náročné analytické úkoly, jako je prvkové mapování s nanometrovým rozlišením a rozlišování prvků běžně používaných v polovodičích, které vykazují náročné překryvy píků.

Materiály pro baterie a vzorky bohaté na lehké prvky

Bezokénkový design XFlash® 7200 FIRE maximalizuje detekci nízkoenergetického rentgenového záření pro analýzu materiálů baterií, polymerů a dalších vzorků obsahujících lehké prvky.

Nanostrukturované vzorky

Schopnost získat dostatečná EDS data v krátkém čase i při nízkém urychlovacím napětí umožňuje vysoce rozlišenou charakterizaci vzorků s nanoměřítkovými strukturami.

Vědy o živé přírodě a vzorky citlivé na elektronový svazek

Díky maximalizaci účinnosti sběru rentgenového záření a propustnosti umožňuje XFlash® 7200 FIRE získávat statisticky významné výsledky při nižších elektronových dávkách, což je vhodné pro analýzu citlivých vzorků, jako jsou biologické preparáty.

Příklad: Ultra-nízko-kV SEM-EDS analýza rozsivky Stephanopyxis turris pomocí XFlash® 7200 FIRE. Vysoká sběrná účinnost a výjimečná citlivost na ultra-nízkoenergetické rentgenové záření umožnily prvkové mapování při 1,7 kV a proudu svazku 1,6 nA, s výstupní čítací rychlostí 19 200 cps při pouhém 1% mrtvé době. Při 1,7 kV není excitována linie Si Kα, což umožňuje chemické mapování nanostrukturované křemičité schránky (frustuly) výhradně pomocí emisní linie Si L (91 eV). Kombinace nízko-kV excitace, vysoké statistiky počtů a nízké elektronové dávky zlepšuje prostorové rozlišení a zároveň minimalizuje drift vzorku a poškození způsobené svazkem u tohoto na svazek citlivého biologického vzorku.

Objevte QUANTAX EDS pro SEM

XFlash® 7200 FIRE je vlajkovým detektorem našeho analytického systému QUANTAX EDS pro SEM.

QUANTAX EDS pro SEM obsahuje vše potřebné pro provádění SEM EDS analýzy, včetně detektoru XFlash® 7, zpracovatelské elektroniky a naší komplexní softwarové sady ESPRIT.