Kategorie produktů
Analýza a zobrazování povrchů (63)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
Elektronové mikroskopy (10)
Laboratorní příslušenství (15)
Magnetická rezonance (10)
Mechanické testování (55)
Měření záření a světla (18)
Multimodální mikroskopie (4)
Rentgenové analytické techniky (25)
Termická analýza (27)
Analýza a zobrazování povrchů (63)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev (29)
Elektronové mikroskopy (10)
Laboratorní příslušenství (15)
Magnetická rezonance (10)
Mechanické testování (55)
Měření záření a světla (18)
Multimodální mikroskopie (4)
Rentgenové analytické techniky (25)
Termická analýza (27)
Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF
Mikro-rentgenová fluorescence (μ-XRF) je metoda pro prvkovou analýzu nehomogenních nebo nepravidelně tvarovaných objektů a malých vzorků či inkluzí. Řada μ-XRF přístrojů firmy Bruker zahrnuje spektrometry navržené pro šperkařské analýzy M1 ORA, pro analýzu objemů a vrstev M1 MISTRAL, M2 BLIZZARD a univerzální, velmi citlivý spektrometr M4 TORNADO. Přístroje ARTAX a M6 JETSTREAM jsou navržené pro nedestruktivní analýzu nepřesunutelných a cenných objektů přímo na místě, například v archeologii a restauratérství. Rentgenová fluorescence s totálním odrazem (TXRF) je jediná rentgenová metoda nabízející detekční limit z rozsahu nízkých ppb. Analýzu stopových prvků nabízejí přístroje S2 PICOFOX a S4 T-STAR.