Elipsometry a reflektometry

Elipsometrie a Reflektometrie: Vyspělé Metody Měření pro Průmysl a Výzkum Elipsometrie a reflektometrie jsou nezbytnými technikami pro přesné měření tloušťky, indexu lomu a dalších vlastností jak jednoduchých, tak komplexních vrstevných systémů včetně objemových materiálů.  Tyto metody umožňují detailní hodnocení anizotropních vlastností, drsnosti povrchů a rozhraní, stejně jako gradientů optických konstant. Ve spolupráci s předním výrobcem SENTECH, nabízíme špičkové spektroskopické a laserové elipsometry a reflektometry. Naše portfolio zahrnuje nejnovější výzkumné elipsometry SENresearch 4.0, cenově přístupné modely SENpro, infračervený elipsometr SENDIRA a plně automatizovanou elipsometrickou stanici SENDURO. Pro komplexní analýzu periodických vrstevných systémů je ideální kombinovaný elipsometr-reflektometr CER SE 500adv, který spojuje výhody obou měřicích technik. Pro efektivní a rychlé stanovení tloušťky tenkých vrstev doporučujeme laserový víceúhlový elipsometr SE 400adv, a také reflektometry z řad RM a TFPadv. Pokud hledáte přesné a spolehlivé řešení pro měření materiálů, elipsometry a reflektometry od SENTECH jsou vaší první volbou. Kontaktujte nás pro další informace a podporu při výběru správného přístroje pro vaše specifické aplikace.