Skip to content
  • info@mt-m.eu
  • +420 513 034 408

Přihlásit | Registrovat

0.00 Kč 0 Cart
zákaznická sekce
mtm-logo
  • Domů
  • Produkty
    • Analýza a zobrazování povrchů
    Mikroskopie skenující sondou - AFM, bioAFM, UHV AFM
    Materiálové AFM
    Bio AFM
    Povrchová analýza - XPS, SIMS, etc.
    Stolní elektronové mikroskopy - SEM
    3D optické a mechanické profilometry
    Detektory pro elektronovou mikroskopii - EDS, WDS, EBSD, etc.
    • Příprava a charakterizace tenkých vrstev
    CVD - Chemická depozice z plynné fáze, ALD
    Elipsometry a reflektometry
    PVD – napařovací a naprašovací depoziční systémy – PLD, MBE
    Plazmochemická depozice a leptání – PECVD, RIE, PEALD
    • Rentgenové analytické techniky
    Rentgenové fluorescenční spektrometry
    Rentgenové monokrystalové difraktometry
    Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF
    Rentgenové práškové difraktometry
    3D rentgenová mikroskopie (XRM)
    • Magnetická rezonance
    Nukleární magnetická rezonance
    Elektronová paramagnetická rezonance
    • Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy
    Multifotonové mikroskopy
    Light Sheet mikroskopy
    Superrezoluční mikroskopy
    • Měření záření a světla
    Měření optických členů
    Jasové kamery
    Goniofotometry, systémy pro měření svítidel
    Spektroradiometry pro měření světla
    • Laboratorní příslušenství
    Spotřební materiál pro XRF
    Mlýnky, drtičky a síta
    Tavičky
    Lisy
    • Termická analýza
    Diferenční skenovací kalorimetry
    Termogravimetrické analyzátory
    Dynamické mechanické analyzátory
    Mikrokalorimetry
    Měřiče tepelné vodivosti
    • Mechanické testování
    Indentory a tribometry
    Dilatometry
    Reometry a viskozimetry
    ElectroForce – mechanické testery
    Testování gumy
    Flash Diffusivita
  • O nás
  • Podpora
  • Aktuálně
  • Události
  • E-shop
  • Kontakt
Search
Close this search box.
mtm-logo
Search
Close this search box.
0.00 Kč 0 Cart
Kategorie produktů
  • Analýza a zobrazování povrchů  (73)
    • 3D optické a mechanické profilometry  (9)
    • Detektory pro elektronovou mikroskopii – EDS, WDS, EBSD, etc.  (6)
    • Mikroskopie skenující sondou – AFM, bioAFM, UHV AFM  (25)
      • Bio AFM  (12)
      • Materiálové AFM  (10)
    • Povrchová analýza – XPS, SIMS, etc.  (7)
    • Stolní elektronové mikroskopy – SEM  (9)
  • Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev  (29)
    • CVD – Chemická depozice z plynné fáze, ALD  (1)
    • Elipsometry a reflektometry  (8)
    • Plazmochemická depozice a leptání – PECVD, RIE, PEALD  (9)
    • PVD – napařovací a naprašovací depoziční systémy – PLD, MBE  (11)
  • Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy  (9)
    • Light Sheet mikroskopy  (5)
    • Multifotonové mikroskopy  (3)
    • Superrezoluční mikroskopy  (1)
  • Laboratorní příslušenství  (18)
    • Lisy  (2)
    • Mlýnky, drtičky a síta  (7)
    • Spotřební materiál pro XRF  (5)
    • Tavičky  (4)
  • Magnetická rezonance  (9)
    • Elektronová paramagnetická rezonance  (5)
    • Nukleární magnetická rezonance  (4)
  • Mechanické testování  (56)
    • Dilatometry  (10)
    • ElectroForce – mechanické testery  (9)
    • Flash Diffusivita  (6)
    • Indentory a tribometry  (17)
    • Reometry a viskozimetry  (11)
    • Testování gumy  (5)
  • Měření záření a světla  (19)
    • Goniofotometry, systémy pro měření svítidel  (4)
    • Jasové kamery  (4)
    • Měření optických členů  (5)
    • Spektroradiometry pro měření světla  (6)
  • Rentgenové analytické techniky  (25)
    • 3D rentgenová mikroskopie (XRM)  (4)
    • Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF  (5)
    • Rentgenové fluorescenční spektrometry  (9)
    • Rentgenové monokrystalové difraktometry  (2)
    • Rentgenové práškové difraktometry  (5)
  • Termická analýza  (25)
    • Diferenční skenovací kalorimetry  (4)
    • Dynamické mechanické analyzátory  (3)
    • Měřiče tepelné vodivosti  (7)
    • Mikrokalorimetry  (6)
    • Termogravimetrické analyzátory  (5)
  • Analýza a zobrazování povrchů  (73)
    • 3D optické a mechanické profilometry  (9)
    • Detektory pro elektronovou mikroskopii – EDS, WDS, EBSD, etc.  (6)
    • Mikroskopie skenující sondou – AFM, bioAFM, UHV AFM  (25)
      • Bio AFM  (12)
      • Materiálové AFM  (10)
    • Povrchová analýza – XPS, SIMS, etc.  (7)
    • Stolní elektronové mikroskopy – SEM  (9)
  • Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev  (29)
    • CVD – Chemická depozice z plynné fáze, ALD  (1)
    • Elipsometry a reflektometry  (8)
    • Plazmochemická depozice a leptání – PECVD, RIE, PEALD  (9)
    • PVD – napařovací a naprašovací depoziční systémy – PLD, MBE  (11)
  • Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy  (9)
    • Light Sheet mikroskopy  (5)
    • Multifotonové mikroskopy  (3)
    • Superrezoluční mikroskopy  (1)
  • Laboratorní příslušenství  (18)
    • Lisy  (2)
    • Mlýnky, drtičky a síta  (7)
    • Spotřební materiál pro XRF  (5)
    • Tavičky  (4)
  • Magnetická rezonance  (9)
    • Elektronová paramagnetická rezonance  (5)
    • Nukleární magnetická rezonance  (4)
  • Mechanické testování  (56)
    • Dilatometry  (10)
    • ElectroForce – mechanické testery  (9)
    • Flash Diffusivita  (6)
    • Indentory a tribometry  (17)
    • Reometry a viskozimetry  (11)
    • Testování gumy  (5)
  • Měření záření a světla  (19)
    • Goniofotometry, systémy pro měření svítidel  (4)
    • Jasové kamery  (4)
    • Měření optických členů  (5)
    • Spektroradiometry pro měření světla  (6)
  • Rentgenové analytické techniky  (25)
    • 3D rentgenová mikroskopie (XRM)  (4)
    • Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF  (5)
    • Rentgenové fluorescenční spektrometry  (9)
    • Rentgenové monokrystalové difraktometry  (2)
    • Rentgenové práškové difraktometry  (5)
  • Termická analýza  (25)
    • Diferenční skenovací kalorimetry  (4)
    • Dynamické mechanické analyzátory  (3)
    • Měřiče tepelné vodivosti  (7)
    • Mikrokalorimetry  (6)
    • Termogravimetrické analyzátory  (5)

Produkty

Nanowizard 5

Analýza a zobrazování povrchů

Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev

AvanceNeo

Magnetická rezonance

Fluorescenční a superrezoluční mikroskopy

lmk-6

Měření záření a světla

Rentgenové analytické techniky

Manuální lis Selectscience

Laboratorní příslušenství

Multi-Sample X3 DSC

Termická analýza

DMA 850

Mechanické testování

Měřicí technika Morava, s.r.o.
Babická 619
664 84 Zastávka u Brna

Facebook Youtube Instagram Twitter
  • +420 513 034 408
  • info@mt-m.eu
2025 © Měřicí technika Morava, s.r.o – Všechna práva vyhrazena | Obchodní podmínky | Ochrana osobních údajů | Soubory cookies | Vytvořil tomsabol.cz