Skip to content
info@mt-m.eu
+420 513 034 408
Přihlásit
|
Registrovat
0.00
Kč
0
Cart
zákaznická sekce
Domů
Produkty
O nás
Podpora
Aktuálně
Události
Kontakt
Search
Search
Close this search box.
Search
Search
Close this search box.
0.00
Kč
0
Cart
Kategorie produktů
Analýza a zobrazování povrchů
(
72
)
3D optické a mechanické profilometry
(
9
)
Detektory pro elektronovou mikroskopii – EDS, WDS, EBSD, etc.
(
6
)
Mikroskopie skenující sondou – AFM, bioAFM, UHV AFM
(
25
)
Bio AFM
(
12
)
Materiálové AFM
(
10
)
Povrchová analýza – XPS, SIMS, etc.
(
6
)
Stolní elektronové mikroskopy – SEM
(
9
)
Depozice, příprava a charakterizace tenkých vrstev
(
29
)
CVD – Chemická depozice z plynné fáze, ALD
(
1
)
Elipsometry a reflektometry
(
8
)
Plazmochemická depozice a leptání – PECVD, RIE, PEALD
(
9
)
PVD – napařovací a naprašovací depoziční systémy – PLD, MBE
(
11
)
Laboratorní příslušenství
(
18
)
Lisy
(
2
)
Mlýnky, drtičky a síta
(
7
)
Spotřební materiál pro XRF
(
5
)
Tavičky
(
4
)
Magnetická rezonance
(
10
)
Elektronová paramagnetická rezonance
(
6
)
Nukleární magnetická rezonance
(
4
)
Mechanické testování
(
56
)
Dilatometry
(
10
)
ElectroForce – mechanické testery
(
9
)
Flash Diffusivita
(
6
)
Indentory a tribometry
(
17
)
Reometry a viskozimetry
(
11
)
Testování gumy
(
5
)
Měření záření a světla
(
18
)
Goniofotometry, systémy pro měření svítidel
(
4
)
Jasové kamery
(
4
)
Měření optických členů
(
4
)
Spektroradiometry pro měření světla
(
6
)
Multimodální mikroskopie
(
4
)
Fototermální spektroskopie
(
4
)
Rentgenové analytické techniky
(
23
)
3D rentgenová mikroskopie (XRM)
(
2
)
Rentgenová fluorescence μ-XRF a TXRF
(
5
)
Rentgenové fluorescenční spektrometry
(
9
)
Rentgenové monokrystalové difraktometry
(
2
)
Rentgenové práškové difraktometry
(
5
)
Termická analýza
(
25
)
Diferenční skenovací kalorimetry
(
4
)
Dynamické mechanické analyzátory
(
3
)
Měřiče tepelné vodivosti
(
7
)
Mikrokalorimetry
(
6
)
Termogravimetrické analyzátory
(
5
)
Žádné rubriky
Zákaznická sekce
Reklamní předměty
Nic nenalezeno.
Zobrazit další
