Dimension XR

SPM Dimension XR – optimalizované řešení pro pokročilý výzkum

Dimension XR (XR – extreme research) od firmy Bruker staví na desetiletích výzkumu a technologických inovací, aby dodal nejvyšší výkon, funkčnost a možnosti výzkumu na nano-škálách. Řada SPM mikroskopů Dimension XR je založena na AFM platformách FastScan a Icon a unikátní řešení pro pokročilý výzkum v oblastech nanomechanické, nanoelektrické a nanoelektrochemické charakterizace. Kvantifikace materiálů a aktivních systému ve vzduchu, kapalinách a elektricky nebo chemicky reaktivních prostředích nikdy nebyla snadnější.

Tři konfigurace Dimension XR

XR Nanomechanics – kvantitativní analýza pro nanomechanické aplikace
• Poskytuje řadů módů pro vyčerpávající analýzu i nejmenších struktur s prostorovým rozlišením až k submolekulárním jednotkám polymerních řetězců.
• Umožnuje korelativní nanomechanickou charakterizaci vztažitelnou k objemové DMA (dynamic mechanical analysis) a nanoindentační metody s novým módem AFM-nDMA.
• Kvantifikovatelná nanocharakterizace materiálů sahající od měkkých lepivých hydrogelů až po tuhé kovy a keramiky.

XR Nanoelectrical – korelativní mnoharozměrné informace pomocí DataCube
• Pokrývá nejširší paletu elektrických AFM technik v jediném systému.
• Poskytuje elektrická spektra v každém pixelu korelovaná s mechanickými vlastnosti v novém módu DataCube.
• Z jediného měření dává dříve nedostupné informace.

XR Nanoelectrochemical – kvantitativní analýza elektrochemických reakcí v reálném čase
• Umožňuje robustní skenovací elektrochemickou mikroskopii založenou na AFM (AFM-SECM) a elektrochemické AFM (EC-AFM).
• Měří elektrochemické veličiny s prostorovým rozlišením < 100 nm.
• Provádí současné elektrochemické, elektrické a mechanické mapování v roztocích.