SNE-4500M

Stolní elektronový mikroskop s vysokým zvětšením 100 000×

Stolní elektronové mikroskopy řady SNE-4500 dosahují rozlišení klasických floor-top mikroskopů při udržení kompaktní velikosti. Mikroskop je v režimu sekundárních elektronů (SE) schopen při maximálním urychlovacím napětí 30 kV dosáhnout rozlišení až 5 nm.

Mikroskop cílí zejména na uživatele, kteří vyžadují rutinní inspekci vzorků ve vysokém rozlišením. Této filosofii odpovídá i design a software zaměřený na vysokou produktivitu a snadnost použití. Všechny běžné hlavní ladící parametry (stigmatismus, ostrost, kontrast a jas) mohou být použity v automatickém režimu zajišťující komfortní použití i pro začínající uživatele.

Pohyb vzorku v mikroskopu je možný v pěti stupních volnosti – X, Y, Z, otáčení v rovině držáku vzorku a jeho naklánění (manuální).

Hlavní technické parametry

Elektronový systém:

• Rozlišení: 5 nm (30 kV, mód sekundárních elektronů)
• Zvětšení: 20× – 100 000×
• Urychlovací napětí: 1 – 30 kV (1/5/10/15/20/30 kV)
• Detektor: pro sekundární elektrony
• Zdroj elektronů: wolframové vlákno

Pohyb vzorku:    

• Pětiosový systém: X, Y, Z, R, T – manuální
• Osy X, Y: 40 mm / rotace R: 360°
• Osa Z: 0 – 35 mm / manuální naklánění T: 0 – 45°
• Maximální velikost vzorku: 80 mm v průměru, výška 35 mm

Automatické funkce Auto Start, Auto Focus, Auto Stigmator, Auto Contrast & Brightness

Vakuový systém: pro vysoké vakuum (možnost nízkého vakua)
Čerpání rotační/turbomolekulární vývěva (plně automatické)

Rozměry:

• Hlavní jednotka: 390 × 560 × 380 mm (šířka × výška × hloubka), 88 kg
• Kontrolní jednotka: 390 × 560 × 325 mm (šířka × výška × hloubka), 37 kg
• Rotační vývěva: 400 × 340 × 160 mm (šířka × výška × hloubka), 24 kg

Volitelná varianta SNE-4500M Plus B má navíc detektor zpětně odražených elektronů (BSE) pro dodatečnou informaci o těžkých prvcích v povrchu vzorku. Snímky s BSE detektorem dosahují rozlišení až 8 nm při urychlovacím napětí 30 kV.