Povrchová analýza - XPS, SIMS, etc.

Zde naleznete řadu přístrojů pro povrchovou analýzu jako jsou XPS (ESCA), UPS, LEEM,... a další modulární systémy, které dodáváme ve spolupráci s našimi dodavateli Createc a dalšími. Pro povrchovou analýzu ToF-SIMS nabízíme cenově efektivní přístroj od firmy Kore - SurfaceSeer.